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使用動態干涉儀需要注意哪些

更新時間:2022-12-02 點擊次數:199
  動態干涉儀有別于基于傳統 Fizeau干涉儀的方法,采用位相檢測方法直接構建的動態干涉 儀既不需要移動待測元件多次曝光,也不需要采用偏振等復雜的光學手段,針 對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差。
 
  Kaleo-Multiwave多色動態干涉儀可用于光學元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統測試及實時調整等。大動態范圍像差測試能力使其可測平面 / 球面波而無需中繼鏡,無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源,可以對大口徑鏡片進行直接或對比測量。
 
  注意事項:
 
  1、儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環境中應用。
 
  2、在移動儀器時,為防止導軌變形,應托住底座再進行移動。
 
  3、儀器的光學零件在不用時,應在清潔干燥的器皿中進行存放,以防止發霉。
 
  4、盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等,如必須擦拭則應當小心擦拭,利用科學的方法進行清潔。
 
  5、導軌、絲桿、螺母與軸孔部分等傳動部件,應當保持良好的潤滑。因此必要時要使用精密儀表油潤滑。
 
  6、在使用時應避免強旋、硬扳等情況,合理恰當的調整部件。
 
  7、避免劃傷或腐蝕導軌面絲桿,保持其不失油。

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