服務熱線

13810664973
網站導航
新聞中心
當前位置:主頁 > 新聞中心 > 棱鏡耦合測試儀測量原理及應用領域

棱鏡耦合測試儀測量原理及應用領域

更新時間:2022-06-13 點擊次數:298
   棱鏡耦合測試儀主要用于電解質和聚合物膜的厚度、折射率和波導參數的快速測量,適用于薄膜厚度在2-100µm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜,在干涉條紋產生的基礎上通過改變角度產生干涉條紋的方法。對于厚膜折射率的測量,單色光被直接照射到被測樣品上,這樣,從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發生變化,光的入射角也會發生變化。
  
  測量原理:
  待測樣品通過一個空氣作用的耦合探頭與棱鏡基座接觸,在薄膜與棱鏡之間產生一個空氣狹縫。一束激光光束照射到棱鏡基座上,通常會在基座上全反射進入光電探測器。在某一些入射角,稱為模式角,光子向下穿過空氣狹縫進入薄膜,進入一種被引導的光傳播模式,使到達探測器的光強度大幅降低。
  棱鏡鏡片的厚薄差較大,在焦度計上打點和檢測時需將棱鏡jian端稍抬起,使鏡片的前表面處于水平位置,因為棱鏡鏡片在磨邊裝配過程中??紤]到美觀等因素,尖邊位置往往在厚端的靠外處,也就是說鏡片的外表面比里面更接近于水平線,因而在鏡片的視軸也更接近于外表面的光軸,而不是里表面的光軸,所以這個方向的度數應是實際有效距離,也就是說,焦距在這個方向的測量值為實際有效距離。
  
  該儀器可測量薄膜/基底的類型,硅襯底上幾乎任何透明或半透明材料的氧化物、氮化物、介質、聚合物或薄膜??蓽y量的薄膜/襯底類型:氧化物、氮化物、介電材料、聚合物、或硅襯底上幾乎任何透明或半透明材料的薄膜。
  
  棱鏡耦合測試儀主要應用領域:
  1、光波導器件;
  2、激光晶體材料;
  3、聚合物材料;
  4、顯示技術材料;
  5、光/磁存儲材料;
  6、光學薄膜。

2023 版權所有 © 先鋒科技(香港)股份有限公司  備案號: sitemap.xml 管理登陸 技術支持:化工儀器網

地址:香港灣仔駱克道301-307號洛克中心19樓C室 傳真: 郵件:Lina-He@zolix.com.cn

關注我們

服務熱線

13810664973

掃一掃,聯系我們

久久免费精品,亚洲一区国产一区,无码一区二区视频在线观看网址,久久99国产精品